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显微熔点仪(数显)HCSGW X-4

简要描述:显微熔点仪(数显)

  • 产品型号:HCSGW X-4
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2017-07-14
  • 访  问  量:1134

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详细介绍

详细说明:

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)
          ±2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X


 

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